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岛津场发射电子探针EPMA-8050G
“The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射
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EPMA-8050G电子探针显微分析仪
空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。 产品简介 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元 ——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的
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电子探针EPMA-1720系列
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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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JXA-iSP200电子探针显微分析仪
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JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用,其用途越来越广。此外,在学术领域 ,地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用,矿物等
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场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F电子探针EPMA 样本
点击查看下载 场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F电子探针EPMA 样本相关资料,进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者,近年推出的一系列全新的电子光学产品
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EPMA-8050G 场发射电子探针EPMA-8050G岛津
“TheGrandEPMA”是一个全新的岛津EPMA系统,它搭载了最先进的场发射电子光学系统,将岛津EPMA分析性能发挥到极致。无论是在SEM观察条件下还是在1μA量级下,这个系统都拥有无与伦比的
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EPMA-8050G电子探针显微分析仪电子探针EPMA 可检测光纤
岛津电子探针显微分析仪EPMA-8050G可用于测定光纤,适用于使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试项目。并且参考多项行业标准暂无。可应用于多个行业领域。 使用岛津
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日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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